Faults Diagnostic using Hopfield Artificial Neural Network in front of Incomplete Data

Journal of Engineering and Technology for Industrial Applications

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Site: https://www.itegam-jetia.org
Telefone: (92) 3584-6145
ISSN: 2447-0228
Editor Chefe: JANDECY CABRAL LEITE
Início Publicação: 15/03/2015
Periodicidade: Trimestral
Área de Estudo: Bioquímica, Área de Estudo: Ciência e Tecnologia de Alimentos, Área de Estudo: Engenharia Agrícola, Área de Estudo: Recursos Florestais e Engenharia Florestal, Área de Estudo: Recursos Pesqueiros e Engenharia da Pesca, Área de Estudo: Recursos pesqueiros e engenharia de pesca, Área de Estudo: Biofísica, Área de Estudo: Bioquímica, Área de Estudo: Farmacologia, Área de Estudo: Genética, Área de Estudo: Ciências Exatas, Área de Estudo: Ciência da computação, Área de Estudo: Física, Área de Estudo: Geociências, Área de Estudo: Matemática, Área de Estudo: Oceanografia, Área de Estudo: Probabilidade e estatística, Área de Estudo: Química, Área de Estudo: Administração, Área de Estudo: Arquitetura e urbanismo, Área de Estudo: Ciência da informação, Área de Estudo: Comunicação, Área de Estudo: Desenho industrial, Área de Estudo: Economia, Área de Estudo: Tecnologia, Área de Estudo: Engenharias, Área de Estudo: Engenharia aeroespacial, Área de Estudo: Engenharia ambiental, Área de Estudo: Engenharia biomédica, Área de Estudo: Engenharia civil, Área de Estudo: Engenharia de materiais e metalúrgica, Área de Estudo: Engenharia de minas, Área de Estudo: Engenharia de produção, Área de Estudo: Engenharia de transportes, Área de Estudo: Engenharia elétrica, Área de Estudo: Engenharia mecânica, Área de Estudo: Engenharia naval e oceânica, Área de Estudo: Engenharia nuclear, Área de Estudo: Engenharia química, Área de Estudo: Engenharia sanitária, Área de Estudo: Multidisciplinar, Área de Estudo: Multidisciplinar

Faults Diagnostic using Hopfield Artificial Neural Network in front of Incomplete Data

Ano: 2018 | Volume: 4 | Número: 13
Autores: Raquelita Torres Cabeza, Orestes Llanes Santiago, Egly Barrero Viciedo and Valery Moreno Vega
Autor Correspondente: Raquelita Torres Cabeza | [email protected]

Palavras-chave: incomplete data, faults diagnostic, hopfield artificial neural network

Resumos Cadastrados

Resumo Inglês:

In  this  work, Hopfield  Artificial Neural Network’s performance in  faults diagnostic in industrial process is evaluated when there is missing data. The diagnostic of two classes with different levels of  overlapping  data  is  done.  As  main  result,  Hopfield  has  a  good  performance  in  the  implemented tests getting over architectures like the Probabilistic Neural Network, that’s why it is a good option to use it in faults diagnostic.



Resumo Espanhol:

 

En este trabajo, el rendimiento de la Red Neural Artificial de Hopfield en el diagnóstico de fallas en procesos  industriales  se  evalúa  cuando  faltan  datos.  Se  realiza  el  diagnóstico  de  dos  clases  con diferentes   niveles  de  datos  superpuestos.   Como  resultado  principal,  Hopfield  tiene  un  buen desempeño   en   las   pruebas   implementadas   superando   arquitecturas   como   la   Red   Neuronal Probabilistic, por eso es una buena opción usarlo en el diagnóstico de fallas.